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Mu-66i 微量天平 称量（最大）：6,1 g 可读性[d]：0,001 mg 皮重范围：-6,1 g
JA系列分析电子天平 量程（g）：1200 可读性（g）：0.001 最小称重（g）：0.002
FA系列分析电子天平 量程（g）：220 可读性（g）：0.0001 最小称重（g）：0.0004
JA-H系列分析电子天平 量程（g）：310 可读性（g）：0.0001 最小称重（g）：0.004
JA-P系列分析电子天平 量程（g）：310 可读性（g）：0.001 最小读数（g）0.001
FA（SEM）系列 半微量分析天平 量程漂移(+10 … +30°C): +/– 2ppm/°C 称重室尺寸： 长×宽×高(毫米): 152×160×225 外形尺寸： 长×宽×高(毫米):345×215×345
FA-A（I）系列分析天平 量程漂移(+10 … +30°C): +/– 2ppm/°C 外形尺寸： 长×宽×高(毫米):345×215×345 称重室尺寸： 长×宽×高(毫米): 162×171×225
JA-N系列内校分析电子天平 校准砝码：200g 校准方式：全自动时间触发校准、一键自动校准 读数精度：0.001g
FA-E 系列分析电子天平 最大称量：220g 精度 ：0.0001g 最小称重：0.0004g
FA-TS系列触摸屏密度天平 最大称量：220g 校准砝码：200g 校准方式：外部校准
FA-T系列触摸屏内校分析电子天平 最大称量：220g 校准砝码：200g 校准方式：全自动时间触发校准、一键自动校准
FA-N系列内校分析电子天平 最大称量：220g 校准砝码：200g 读数精度：0.0001g
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